电感耦合等离子体质谱仪厂家 icp-ms分析仪
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产品描述

测试范围2-255amu 功率600-1600W连续可调 测量精度0.5-1.1amu连续可调 型号PlasmaMS 300 矩管材质石英 生产厂家钢研纳克
公司主要技术和产品的创新历程
公司是我国金属材料领域的**者。基于原钢研院自 1954 年以来在金 属材料和冶金工艺分析测试领域的技术积淀,公司于 2001 年成立,已逐步搭建 起强大的技术创新体系。公司自成立以来一直面向国家重*程及重点项目需 求,不断开发新技术、新标准、新产品,屡次解决国家及行业在金属技术及 仪器装备领域的瓶颈,不断实现重大技术突破,解决“卡脖子”问题,**国内金 属和分析仪器的技术进步与创新。 凭借完善的创新体系和持续创新能力,公司目前拥有了在金属材料领域 的、表征、评价和认证服务能力,同时开发出一系列具有完全自主知识 产权和**性的仪器产品。
公司分析仪器可分为原子光谱、X 射线荧光光谱、气体元素分析、质谱、 力学、无损探伤及环境监测类,产品类型丰富,目前共有 40 多种产品型号, 覆盖金属材料、环境监测、食品药品等应用领域。
电感耦合等离子体质谱仪厂家
非质谱干扰(物理干扰)是PlasmaMS 300中存在的两种主要干扰中的一种。 非质谱干扰主要包括: 1.质谱内沉积物:可以通过适当的清洁而降低。
2.样品基体:这种干扰有时候可通过不同的样品制备方法或适合的性能选项来降低,如使 用超声雾化器(ultrasonic nebulizer ,USN) 或者氩气稀释器(Argon Gas Dilution???) 。
有五种方法可以用来校正这种类型的干扰,按照从易到难的顺序排列在下面:
1.   如果检出限允许的话,简单的办法是对样品进行稀释。
2.  使用内标校正
3.  使用标准加入法
4.  氩气稀释 (前提是需要使用ESI进样系统)
5.   采用化学分离法将样品中的基体进行分离去除 非质谱干扰(物理干扰)的存在有两种表现形式:信号抑制、信号漂移。其中内标校正是使
用广泛的用来校正物理干扰的技术手段。
在进行多样品序列分析时,内标可以用来校正随着时间推移而发生的信号漂移。实验室环 境变化、样品基体变化、样品粘度变化等因素都会引起信号的漂移。锥口盐沉积也会引起 信号的漂移。
如果需要测量的元素覆盖的质量区间范围很大 (例如方法中既包含高质量元素,也包含中 质量元素或轻质量元素),使用多种内标进行校正。
在本章*三节(内标选择)中已经详细介绍过内标的使用原则,用户可以进行参考。
标准加入法是另外一种广泛使用的用来校正非质谱干扰的手段。当基体抑制效应无法通过 稀释或基体剥离来去除的时候,可以用标准加入法来降低干扰。
电感耦合等离子体质谱仪厂家
钢研纳克同时也是**的标准物质提供商,都提供标样,很多是以混标的形式包含了用户要求浓度的多种元素,可以方便 地用于 **SMAMS 300 分析。
此外您也可以从钢研纳克购买单标---10,000/1,000  ppm的单标母液。
但是,考虑到各个元素自身的物理化学特性,以及它们在酸中的稳定性,或者它们与溶液 中其他元素的共存稳定性等各种特性,在配置混标的过程中必须格外小心。
当配置自用的复合标准品时,应注意
• 此外高浓度能降低分析元素的损失,如瓶壁吸附
• 不是溶液中所有的元素均需要达到10ppm的线性范围
• 也要小心不要混合产生相互反应的元素否则可能产生沉淀,如在S存在下的Ba。
• 在制备标样或者样品的过程中,请确认您的去离子水系统能够正常工作,一 般**纯水的电阻率应该在18.2 MΩ/cm左右。
• 在此过程中使用的试剂例如酸试剂,也应该是纯度的。
• 移液管(pipettes)或其他类似器具不能直接伸入试剂或母液容器里。
• 确保**SMAMS 300的工作容器都是塑料的(例如PFA, FEP, PTFE, LDPE, HDPE, PMP 或PP),尽量不要用玻璃容器(Pb,Hg等可以用玻璃)。
• 在制备标样或者样品的过程中,尽量减少稀释步骤。
• 应当使用经过校准的微量移液器(例如移液),并且使用一次性塑料头。
• 应当在通风橱里面进行制备,以尽量避免空气流通带来的污染。
• 为了得到的检出限,凡是在制备过程中会与标样或者样品接触的容器和 器具都应当在使用前经过酸液浸泡。
电感耦合等离子体质谱仪厂家
**SMAMS 300 在不**业的应用与干扰
地质样品通常难以消解。相比之下,激光消融几乎不需要任何样品制备,仅仅 需要将样品切至适合激光消融池的大小。
在这一领域中,样品多种多样,质谱分布范围很广,因此此类应用为广泛和复杂。在单 个矿物或样品(minerals or phases)中,可能既需要分析痕量金属含量,又需要进行同位 素信息扫描。
由于在这类样品中存在着大量的稀土元素(rare earth elements),因此在这类地质样品中 常见的干扰就是氧化物干扰和双电荷干扰。
应用领域:
岩石稀土分析和岩石消解 激光消融分析矿物
同位素比例研究地球及外来物质的原始和进化 水沉积物和地下水
http://xjr003.cn.b2b168.com

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