光谱仪能什么元素 ccd光电直读光谱仪

光电光谱分析选用的分析线，必需符合下列要求。
 直读光谱分析时，一般都采用内标法。因内标法进行分析时常采用多条分析线和一条内标线组成，常用试料中的基体元素为内标元素。组成的线对要求均称，就是当激发光源有波动时，两条线对的谱线强度虽有变化，但强度比或相对强度能保持不变。
如R表示强度比即          R=I1/I0
I1为分析线的强度，Io为内标线强度，表明I1和Io同时变，而R则不受影响。R与含量C之间有线性关系。
 在光电直读光谱分析时，有很多分析通道，要安装许多内标通道有困难，因此采用一个内标线。但有人认为再要提高光电光谱分析的准确度还得采用不同的内标线，这还有待于光电转换元件的小型化来解决。
 光电法时，有时还用内标线来控制曝光量，称为自动曝光，也就是样品在曝光时，分析线和内标分别向各自积分电容充电，当内标线的积分电容器充电达到某一预定的电压时，自动截止曝光。此时分析线的积分电容器充电达到的电压即代表分析线的强度I，并且亦即代表分析线的强度比R(因为R=I1/Io，而此时Io保持常数)这个强度I或强度比R就由测光读数所表示。
 现在一般采用计时曝光法较为普遍。

钢研纳克Spark 8000 全谱火花直读光谱仪采用高分辨率线阵CMOS（Complementary Metal Oxide Semiconductor）作为器，CMOS 仪器集成性高、读取速度更快、功耗低、长期稳定性更高；每个像素自带放大器，可对元素进行强度调整，增加仪器的准确度，降低分析限，实现全谱扫描。采用智能控制光室充气系统，仪器性能更稳定，服务期限更长久。海量的谱线使分析不再受限，曲线分段跳转同一元素不同谱线间实现无缝衔接，拓展分析范围*三元素干扰校正使元素分析更加准确，可以在用户现场任意增加材料基体和分析元素而*增加硬件，维护保养方便。能量、频率连续可调全数字固态光源，适应各种不同材料；网口采集传输，速度快，通用性更强。

直读光谱仪在分析过程中由于各种因素的影响产生误差是在所难免的，比如标准样品和分析样品成分不均匀、组织状况不一致、光谱性能不稳定、样品表面处理不好、氩气纯度不够等一个因素出现问题，就会影响到光电光谱分析误差。了解其产生误差的原因，采取有效的措施进行消除或避免误差，提高直读光谱仪结果的准确性，是一项十分重要的研究课题。

光谱仪在分析的过程中，电火花燃烧样品表面会产生金属粉尘，大部分的金属粉尘都会随着氩气吹扫排到过滤罐中，然而也会有少部分金属粉尘会停留在激发室里，时间长了会堆积污染激发室和光学透镜，引起测量数据波动，误差变大，所以需要定期的清理来改善激发室环境，改善测量数据。
光谱仪在使用的过程中，会有一部分金属粉尘、金属屑、灰尘掉落到仪器内部电路模块上，如果不及时清理可能会导致电路模块短路，一些核心的电路板损坏维修费用会很高，所以需要及时的清理仪器内部灰尘，保证电路的正常运行。
仪器使用年限长了后，仪器内部一些器件会发生老化，这部分器件需要及时的发现更换，否则会引起严重的光谱仪故障。
化验员在使用过程中可能会存在一些不规范的操作，这些操作可能会导致测试误差，严重的误操作也可能会导致光谱仪故障，的方式是能和的光谱沟通交流，让发现化验员的不规范操作，及时纠正，确保仪器的正常使用。
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