国产ICP-MS测稀土元素 电感耦合等离子体质谱仪公司

**SMAMS 300 测量的是等离子体中带一价正电荷的离子的数目。ICP 的条件需要优化，以
程度地形成一价正离子，同时尽可能减少多电荷离子的形成和多原子分子的形成。这些一 价离子在等离子体处产生，然后通过采样锥进入透镜系统，之后质谱仪中根据离子的质量
数将其分离(严格意义上说是根据质荷比)，分离完成以后离子才到达器。
**SMAMS 300系统分为4个功能单位。为了使仪器的性能达到，建议操作者必须对这四个 部分进行分别优化。
1. 进样系统Sample Introduction –包括等离子体源，大气压条件下在ICP处产生各种元素 的离子。
2.接口系统和离子透镜系统 –接口系统对离子源进行采样，将其引入真空环境，并通过一 系列的电子透镜对离子进行聚焦。
3.杆 –质量筛选是通过杆进行的，按照质荷比筛选。从大气压到这个真空度的抽真空时间大约是~15min(在未拆开箱盖的情况下)。
4.器 –离子被杆分离以后，达到器时进行计数。 如果用户更换器，需要 过夜抽真空进行器脱气。 离子束在每个功能模块中的运动我们在后续中都会介绍，接下的个就会介绍 进样系统。

采用PlasmaMS 300进行分析时样品注意事项：
很多样品的初始状态并不适合直接上机测试，例如:
固体样品 浑浊样品(Heterogeneous)
待测元素含量过高 (**SMAMS 300的动态线性范围大约是 100ppm)
高基体 (我们建议**SMAMS 300上机样品TDS <0.2%w/v，TDS为总固态可溶物含量
Total Dissolved Solids)
由于以上原因，我们需要先将样品转换成液体形态。一般来说，HNO3是比较理想的选择， 但有时候由于样品基体的原因，无法使用HNO3---例如**样品和钢铁样品等。如果可以 使用HNO3，2%  HNO3是比较适合**SMAMS 300分析上机的。因为的HNO3加入一般不会增加 多原子干扰，同时，高纯度HNO3比较*买到。
其他类型的酸试剂都会带来额外的干扰。例如：添加HCl来溶解样品，会产生ClO  &  ArCl， 因此会干扰V & As的测定。磷酸和硫酸的添加会干扰Ti & Zn的测定。
我们建议 **SMAMS 300 的样品溶解并稀释到以下范围：
< 0.2% w/v TDS(Total Dissolved Solids)

PlasmMS等离子体的形成可以用弗林明左手定则(Fleming’s  Rule)来解释，该定律解释了电流、RF频率、与能量之间的关系。
气沿着感应线圈的轴向通过石英炬管。RF发生器给水冷式感应线圈供能，在炬焰内 部产生射频磁场(radio-frequency magnetic field)，该磁场并不直接偶联惰性气体，但通 过将特斯拉线圈的放电传给氩气，可以形成一些Ar+。这些起始离子可以将RF磁场与氩气 偶联，更多的Ar+不断产生，因而可以在矩管内维持稳定的等离子体。
等离子体刚形成时，并没有通雾化气，此时等离子体是螺旋管形状(toroidal)的，随着雾化 气流速的增加，样品气流会穿通等离子体的通道(central  channel)，样品在中心通道 处被电离。
氩气等离子体由自由Ar+离子和电子组成，由RF射频振荡供能，振荡频率是27Mhz。相比 离子而言，电子的移动性更高，会跟随RF线圈的方向而移动。因此，在等离子体内部出 现了电荷分离，因此某种程度上来说等离子体可以像二极管(diode)那样，一小部分的RF 会发生反射回流(rectified)。产生的实际效果就是等离子体相对大地(earth)而言，会带些 许正电(或者负电)，因此离子会产生额外的加应。另外一个效应就是，在截取锥与采 样锥之间的低压区间，会产生小小的电晕放电(corona  discharge)现象，而该区域会发生 一些重新结合的反应(re-combination  reactions)。利用RF发生器内部的虚拟接地，可以有 效减少等离子体的RF反射、接口处放电、以及导致的重新结合等。

PlasmaMS 300的各项参数都需要进行优化，以便获得稳定的数据分析结果，这些参数包括：
• 样品引入
• ICP炬管
• 接口
• 透镜
• 杆
• 器
一般来说，参数优化的目的都是为了获得目标同位素的灵敏度。在下面的中我们 会详细介绍，灵敏度在整个优化过程中扮演了主要的角色，但是除了灵敏度以外，其他 因子也需要引起您的注意，必须综合考虑，后才能得到恒定又可靠的**SMAMS 300结果数据。
http://xjr003.cn.b2b168.com