光电式直读光谱仪 全谱直读

钢研纳克Spark 8000 全谱火花直读光谱仪采用高分辨率线阵CMOS（Complementary Metal Oxide Semiconductor）作为器，CMOS 仪器集成性高、读取速度更快、功耗低、长期稳定性更高；每个像素自带放大器，可对元素进行强度调整，增加仪器的准确度，降低分析限，实现全谱扫描。采用智能控制光室充气系统，仪器性能更稳定，服务期限更长久。海量的谱线使分析不再受限，曲线分段跳转同一元素不同谱线间实现无缝衔接，拓展分析范围*三元素干扰校正使元素分析更加准确，可以在用户现场任意增加材料基体和分析元素而*增加硬件，维护保养方便。能量、频率连续可调全数字固态光源，适应各种不同材料；网口采集传输，速度快，通用性更强。

直读光谱仪在分析过程中由于各种因素的影响产生误差是在所难免的，比如标准样品和分析样品成分不均匀、组织状况不一致、光谱性能不稳定、样品表面处理不好、氩气纯度不够等一个因素出现问题，就会影响到光电光谱分析误差。了解其产生误差的原因，采取有效的措施进行消除或避免误差，提高直读光谱仪结果的准确性，是一项十分重要的研究课题。

光电光谱分析选用的分析线，必需符合下列要求。
 直读光谱分析时，一般都采用内标法。因内标法进行分析时常采用多条分析线和一条内标线组成，常用试料中的基体元素为内标元素。组成的线对要求均称，就是当激发光源有波动时，两条线对的谱线强度虽有变化，但强度比或相对强度能保持不变。
如R表示强度比即          R=I1/I0
I1为分析线的强度，Io为内标线强度，表明I1和Io同时变，而R则不受影响。R与含量C之间有线性关系。
 在光电直读光谱分析时，有很多分析通道，要安装许多内标通道有困难，因此采用一个内标线。但有人认为再要提高光电光谱分析的准确度还得采用不同的内标线，这还有待于光电转换元件的小型化来解决。
 光电法时，有时还用内标线来控制曝光量，称为自动曝光，也就是样品在曝光时，分析线和内标分别向各自积分电容充电，当内标线的积分电容器充电达到某一预定的电压时，自动截止曝光。此时分析线的积分电容器充电达到的电压即代表分析线的强度I，并且亦即代表分析线的强度比R(因为R=I1/Io，而此时Io保持常数)这个强度I或强度比R就由测光读数所表示。
 现在一般采用计时曝光法较为普遍。

钢研纳克直读光谱仪源于中国冶金行业的科研“钢铁研究总院”，具有70年金属分析经验，金属标准制定者，直读光谱仪国家标准GB/T4336起草单位。钢研纳克拥有国内强大的光谱仪产品研发、生产、售后服务力量，生产出了“国产好仪器”火花直读光谱仪Lab Spark系列，世界**的OPA金属原位分析仪系列，直读光谱仪的者SparkCCD系列，系列产品获得了广大用户的认可，在中国累计销售4000余台，是中国金属材料光谱分析领域的。
   钢研纳克直读光谱仪系列产品多次获得、省部级重项，如国家科学技术进步奖二等奖（金属原位分析仪）、两次荣获中国分析仪器奖项“BCEIA”金奖，山东省科学技术进步奖一等奖，中国仪器仪表行业协会自主创新金奖，国家知识产权局中国奖等奖项。
在以院士为首的研发团队带领下，钢研纳克充分发挥技术研发优势，承担了大量的国家重大课题，包括国家重点研发计划项目、工程院咨询项目、工信部工业转型升级（中国制造2025）资金项目、国家自然基金项目等。同时，公司技术及其产品多次获得、省部级重项，如国家科学技术进步奖二等奖、中国仪器仪表行业协会自主创新金奖、国家知识产权局中国奖等。公司拥有130余项，拥有软件著作权40余项。
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