国产ICP-MS分析 icp-ms分析仪

PlasmaMS 300的各项参数都需要进行优化，以便获得稳定的数据分析结果，这些参数包括：
• 样品引入
• ICP炬管
• 接口
• 透镜
• 杆
• 器
一般来说，参数优化的目的都是为了获得目标同位素的灵敏度。在下面的中我们 会详细介绍，灵敏度在整个优化过程中扮演了主要的角色，但是除了灵敏度以外，其他 因子也需要引起您的注意，必须综合考虑，后才能得到恒定又可靠的**SMAMS 300结果数据。

采用PlasmaMS 300进行分析时样品注意事项：
很多样品的初始状态并不适合直接上机测试，例如:
固体样品 浑浊样品(Heterogeneous)
待测元素含量过高 (**SMAMS 300的动态线性范围大约是 100ppm)
高基体 (我们建议**SMAMS 300上机样品TDS <0.2%w/v，TDS为总固态可溶物含量
Total Dissolved Solids)
由于以上原因，我们需要先将样品转换成液体形态。一般来说，HNO3是比较理想的选择， 但有时候由于样品基体的原因，无法使用HNO3---例如**样品和钢铁样品等。如果可以 使用HNO3，2%  HNO3是比较适合**SMAMS 300分析上机的。因为的HNO3加入一般不会增加 多原子干扰，同时，高纯度HNO3比较*买到。
其他类型的酸试剂都会带来额外的干扰。例如：添加HCl来溶解样品，会产生ClO  &  ArCl， 因此会干扰V & As的测定。磷酸和硫酸的添加会干扰Ti & Zn的测定。
我们建议 **SMAMS 300 的样品溶解并稀释到以下范围：
< 0.2% w/v TDS(Total Dissolved Solids)

PlasmaMS 300 的ICP部分
由于ICP是一个开放式的等离子体系统，始终处于电离与平衡的过程之中，因此ICP并不 能够承受大量液体样品的引入，因此采用雾化器，雾室这样的进样系统。 通过蠕动泵使样品不断到达雾化器，雾化器把液体样品喷射成颗粒细微的气溶胶，雾室去 除大颗粒的气溶胶，保证颗粒较小的气溶胶引入ICP中。伴随着在炬管中心管中的温度逐 渐升高，样品发生了一系列物理变化，终形成离子。 由于样品气溶胶始终被气体所推动，因此整个样品离解过程是非常*的。而在雾化器中 形成的气溶胶绝大多数都被形成废液后排除，真正到达ICP的样品其实非常有限。 ICP中的离子：气态元素原子失去电子形成的物理性离子，与溶液中的离子完全不同 之所以采用ICP源是因为只有足够高的温度才能提供能量实现样品中的化合物离解和气化 以及电离。
等离子体具有很高的温度（8000-10000K），在这个温度下大多数元素从原子变为带电离 子，以离子形态进入一级真空系统。
氩气等离子体具有一个典型特点：即使样品中有许多元素，在通过等离子体时，绝大多数 元素都会形成单电荷正离子。

**SMAMS 300 的进样系统包括了蠕动泵(Peristaltic Pump)、雾化器(Nebulizer)。每个部件都关 系到能否都将样品以恒定准确的速率传递到离子源(Plasma)处。这些部件在不同设置、 不同条件下，都会影响到灵敏度、背景、稳定性、以及由气体引入的干扰物。
蠕动泵(Peristaltic Pump):
泵管??? (Pump Windings) – 噪音的来源 样品提升速率 – 影响氧化物水平以及雾化器的稳定性
样品冲洗 – 需要时候用正确的泵管(winding)和冲洗时间(rinse time)
使用磨损过度的泵管或者泵管夹的压力不正确，都会导致噪音的产生，进而影响信号 的稳定性。因此，应该保证泵管的位置和压力正常条件下，并且不使用的时候，需要 松开张紧轮(tensioners)或泵管夹(platens)，并且将泵管的一端卡子从卡槽卸下，让泵管 放松。
样品以什么速率被传输到雾化器非常重要。不同雾化器由于制造参数不同，其对应的 性能流速也是不一样的。如果泵速过高，会影响信号稳定性，并且会导致氧化物(Oxides， 基于气体产生的干扰)产率升高。
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