测试范围2-255amu
功率600-1600w连续可调
测量精度0.5-1.1amu连续可调
型号PlasmaMS 300
矩管材质石英
钢研纳克PlasmaMS 300产品的主要特点
高**的分析能力和的稳定性
性能稳定的ICP离子源
非常人性化的操作性能
具有*创性的技术
产品经过了可靠性验证
PlasmaMS 300 的ICP部分
由于ICP是一个开放式的等离子体系统，始终处于电离与平衡的过程之中，因此ICP并不 能够承受大量液体样品的引入，因此采用雾化器，雾室这样的进样系统。 通过蠕动泵使样品不断到达雾化器，雾化器把液体样品喷射成颗粒细微的气溶胶，雾室去 除大颗粒的气溶胶，保证颗粒较小的气溶胶引入ICP中。伴随着在炬管中心管中的温度逐 渐升高，样品发生了一系列物理变化，终形成离子。 由于样品气溶胶始终被气体所推动，因此整个样品离解过程是非常*的。而在雾化器中 形成的气溶胶绝大多数都被形成废液后排除，真正到达ICP的样品其实非常有限。 ICP中的离子：气态元素原子失去电子形成的物理性离子，与溶液中的离子完全不同 之所以采用ICP源是因为只有足够高的温度才能提供能量实现样品中的化合物离解和气化 以及电离。
等离子体具有很高的温度（8000-10000K），在这个温度下大多数元素从原子变为带电离 子，以离子形态进入一级真空系统。
氩气等离子体具有一个典型特点：即使样品中有许多元素，在通过等离子体时，绝大多数 元素都会形成单电荷正离子。
质谱干扰主要分为以下两类：
1.多原子干扰(Polyatomic) – 与目标同位素原子质量重合的多原子离子，所带来的干扰
解决办法：1、参数调谐：载气、采样深度等
2、使用碰撞反应池技术
2. 同量异位素干扰(Isobaric) –与目标同位素原子具有相同质量数的原子带来的干扰(目标 原子与干扰原子的质子数和中子数都不同，但(质子数+中子数)相同)；也包括质荷比相等 的不同元素离子形成的干扰。
解决办法：选择合适的同位素
采用PlasmaMS 300进行分析时样品注意事项：
很多样品的初始状态并不适合直接上机测试，例如:
固体样品 浑浊样品(Heterogeneous)
待测元素含量过高 (**SMAMS 300的动态线性范围大约是 100ppm)
高基体 (我们建议**SMAMS 300上机样品TDS <0.2%w/v，TDS为总固态可溶物含量
Total Dissolved Solids)
由于以上原因，我们需要先将样品转换成液体形态。一般来说，HNO3是比较理想的选择， 但有时候由于样品基体的原因，无法使用HNO3---例如**样品和钢铁样品等。如果可以 使用HNO3，2% HNO3是比较适合**SMAMS 300分析上机的。因为的HNO3加入一般不会增加 多原子干扰，同时，高纯度HNO3比较*买到。
其他类型的酸试剂都会带来额外的干扰。例如：添加HCl来溶解样品，会产生ClO & ArCl， 因此会干扰V & As的测定。磷酸和硫酸的添加会干扰Ti & Zn的测定。
我们建议 **SMAMS 300 的样品溶解并稀释到以下范围：
< 0.2% w/v TDS(Total Dissolved Solids)
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