像素数3648+46
像素尺寸8μm
光栅焦距500mm
刻线2700 条 /mm
线分辨率0.7407nm/mm
像素分辨率0.005926nm
谱线范围130-800nm
仪器的漂移校正需要进行标准化，控样主要是消除样品与标样之间因组织结构、成分差异等而引起的分析结果偏差。控样要求与分析样品结构类似、成分接近、生产工艺尽可能相同并经化学法或其他可靠的分析方法定值。
控样校准是一种行之有效的方法，国外一般称之为类型标准化。要用控样校准，前提是工作曲线正常。一般应在完全标准化后进行。控样应与待分析样品的冶炼方式、物理结构、化学成分含量相近，这是应用控样必须遵守的。
可以去购买相接近的标样做为控样。但我觉得如果条件允许，还是自己制备，这样不仅节省成本，而且与自己的分析条件更符合。
制作控样还是比较费事的，首先要准备好浇注模具和同种牌号、熔炼良好的液态合金，尽量在短时间内浇注完成。浇注好的样块先经过肉眼观察，将外观不好的丢弃。再用光谱仪进行均匀性和含量检查（全部）。根据浇注数量和时间顺序从中挑选，选择几块用金相法均匀性及铸造质量。
从挑选好的的中控样，挑选几块，用化学法进行化学成分标定（推荐到有的单位做）。给控样打好标识，就可以投入使用了。
曲线漂移是用两点标准化来校正的,控样是和你们实际生产中产品的工作环境、条件非常接近的样品，这样可以使你分析更加准确，它是自己做的，但是需要化学分析严格准确地定值。
从定量分析的观点来考虑，对光源的要求如下：
1．分析灵敏度高，并能分析痕量、微量元素分析，灵敏度可达ppm或ppb数量级。
2．浓度灵敏度高，即当分析元素含量C有小的变化时，相应的分析线强度2变化要大，即dI／dc要大。
3．在激发过程中，光源应有良好的稳定性和再现性，这是保证分析准确度的基本要求。
4．基体效应小，试料中基体含量变化时，分析元素的结果不受基体变化的影响。*三元素的影响，组织结构的影响，试样形状和质量的影响要小。
5．予燃时间，曝光时间(积分)要短，可提高分析效率和分析速度。
描迹是对光谱仪的光学系统进行的校准。这是校准的首要前提。在此条件下可进行如下校准： 标准化即再校准工作曲线，然后可用到的校准方法有：
(1)、修改持久工作曲线法（修改标准化参数）；
(2)、控样法；
(3)、类型标准化法。
通常来说，光谱仪有三个重要组成部分：狭缝（Slit）、色散元件（Dispersive element）、器（Detector）。在光谱仪性能评价中，重要的评价指标之一便是色散能力（Dispersive power）。
简单而言，就是色散元件能够把复色光分散到多宽的范围上，光被分散地越宽，光谱仪的分辨率自然越好。
可以看到，焦平面越远，刻线越密，色散能力越强，后者受到光栅制作工艺限制，传统的光谱仪往往在上下功夫，这也是光谱仪做的比较大的原因。
然而，值得注意的是，你把光谱仪的分辨能力提得越高，虽然波长相近的光能够被区分地更好，但其代价就是一定长度的detector上所能展现的光谱范围变小了，所以，当光栅光谱仪发展到一定阶段后，人们发现重要的问题又出现在了器（detector）这一侧。
器
感光元件是直读光谱仪的核心，元器件的好坏关系到精密仪器的精度。直读光谱仪（OES）的核心元件有三种,一种是广泛使用的CCD（电荷耦合）元件；另一种是CMOS（互补金属氧化物半导体）器件,还有一种是PMT光电倍增管。
以上的器件都是光谱仪的核心器件，元件的质量对光谱仪的种类来说很重要。
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